Images optiques, mesures 2D et 3D

Code UE : PTM203

  • Cours
  • 6 crédits

Responsable national

Saida GUELLATI KHELIFA

Responsable opérationnel

Saida GUELLATI KHELIFA

Public et conditions d'accès

Techniciens supérieurs, responsables opérationnels, ingénieurs ou futurs ingénieurs appelés à utiliser ou superviser des méthodes de mesures optiques
Une connaissance préalable des principes et principaux effets de l'optique ondulatoire (interférence, diffraction) et des rudiments de l'analyse d'un dispositif de mesure sont indispensables.

Objectifs pédagogiques

Savoir caractériser ou contrôler les performances d'un ensemble optique.
Pouvoir concevoir des dispositifs simples permettant de former une image et d'en déduire les paramètres utiles à l'exploitation.
Connaître les principales méthodes optiques permettant la mesure des formes, des déplacements 2D et 3D et des déformations.

Compétences visées

Capacité à évaluer les performances d'un dispositif optique pour la mesure, le contrôle, les essais.
Capacité à choisir et prévoir les perfromances de la plupart des méthodes optiques de mesure

Contenu

Formation des images.
- Les instruments d'optique : propriétés générales, ouverture, champs, clarté.
- La fonction de transfert de modulation : définition en éclairage cohérent et incohérent ; diverses techniques de mesure.
- Images et filtrage optique : la diffraction à l'infini, les fréquences spatiales, le filtrage.
- Les "images" non planes : éléments d'optique 3D
Méthodes de mesure et de contrôle optique
- Traitement des franges et détection numérique de phase
- Méthodes géométriques de mesures :
profilométrie par projection de lumière structurée,
méthode de la grille, moiré, déflectométrie
- Méthodes interférométriques :
interférométrie type MICHELSON
interférométrie holographique, holographie,
moiré interférométrique
techniques basées sur le speckle laser (interférométrie de speckle et corrélation de speckle)
photoélasticimétrie
- Autres applications

Modalité d'évaluation

Examen.

Bibliographie

  • J. SURREL : Optique instrumentale, optique de Fourier (Ellipses 1996)
  • P. SMIGIELSKI : Holographie industrielle (Teknea).
  • Y.Surrel et al. : Cours téléchargeable sur http://www.cnam.fr/instrumesure
  • J.-Ph. PEREZ : Optique (Masson).

Cette UE apparaît dans les diplômes et certificats suivants

Chargement du résultat...
Patientez
Type
Intitulé
Equipe pédagogique
Modalité(s) / Lieu(x)
Code
Modalité(s) / Lieu(x)
  • Enseignée en formation présentielle ou partiellement à distance : Paris
  • Type Intitulé Equipe pédagogique Modalité(s) / Lieu(x) Code

    Contact

    Secrétariat Instrumentation-Mesure
    2D7P30, 61.B3.01, 61 Rue du Landy
    93210 La Plaine - Saint - Denis
    Tel :01 40 27 21 71
    secr.instrumesure@cnam.fr

    Voir les dates et horaires, les lieux d'enseignement et les modes d'inscription sur les sites internet des centres régionaux qui proposent cette formation

    Enseignement non programmé en 2017/2018