Méthodologies avancées d'informatisation

Code UE : NFE103-PAC

  • Cours
  • 6 crédits

Responsable national

Faten ATIGUI

Responsable opérationnel

Faten ATIGUI

Public et conditions d'accès

Ce cours s'adresse aux auditeurs préparant le Titre II RNCP de concepteur-architecte informatique et/ou aux étudiants préparant le Master STIC mention Informatique spécialité Systèmes d'Information et Business Intelligence.

Objectifs pédagogiques

Acquérir les concepts et les notations utilisés par le langage UML.
Maîtriser un atelier UML.
Acquérir les bases méthodologiques essentielles résultant des derniers développements des méthodes orientées objet.
Faire la synthèse des techniques orientées-objet de conception des systèmes d'information d'entreprise.

Compétences visées

Maîtriser les concepts UML avancés.


1. Introduction :
Principes des Méthodologies Orientées-Objet
2. Concepts objets, Unified Modeling Language (UML) :
Concepts objets, notations UML :
Objets et classes.
Notations UML : diagramme de classes et d'instances.
Abstraction, encapsulation.
Liens et associations.
Agrégation.
Héritage.
Autres concepts UML :
Relation de dépendance.
Paquetage.
Stéréotype.
Interface.
Note et Etiquette. K
Contrainte, Object Constraint Language (OCL).
Association et attribut dérivés.
Profils UML.
Modélisation de la Dynamique :
Cas d'utilisation, scénarios
Événements, état, transition
Scénario : diagramme de séquence
Etats : diagramme d'états
Relation entre modèle objet et modèle dynamique 3. Méthodologies orientée-objets
3. Présentation des principales méthodologies orientées-objet :
Cycle de vie.
Construction des modèles statique et dynamique.
Rational Unified Process (RUP).
Méthode Larman.
Méthodes Agiles : Extreme Programming (XP).
Autres méthodes.
4. Conception Objet :
Diagramme de collaborations.
Exceptions et règles de gestion.
Traitement de la persistance.
Passage au schéma relationnel
5. Objets réutilisables :
Modèles de conception : patrons, frameworks.
Exemples de patrons.
6. Conception avec des objets réutilisables
Modèle-vue-contrôleur (STRUTS).
Entreprise Java Beans (EJB).
Profil UML de STRUTS et des EJBs.
7. Extension d'UML 1. X :
Apports d'UML 2. 0.
Model Driven Architecture (MDA).

Examen

  • P.A. MULLER : Modélisation objet avec UML (Eyrolles 2000)
  • E. GAMMA et al : Design Patterns (Thomson 1996)
  • G. BOOCH, J. RUMBAUGH et Y. JACOBSON : Le guide de l'utilisateur UML, (Eyrolles, 2000)
  • J. COPLIEN et D. SCHMIDT : Pattern Languages of Program Design, (Addison-Wesley, 1995)
  • W. PREE : Design Patterns for Object-Oriented Software Development, (Addison-Wesley 1998)
  • J.W. COOPER : Java Design Patterns, A Tutorial (Addison Wesley, 2000)
  • D. AULUR, J. CRUPI, D. MALKS : Core J2EE Patterns (Prentice Hall, 2001)
  • OMG : OMG White Papers : http://www.omg.org/mda/papers.htm

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Equipe pédagogique
Modalité(s) / Lieu(x)
Code
Equipe pédagogique Informatique
Equipe pédagogique Informatique
Equipe pédagogique Informatique
Modalité(s) / Lieu(x)
  • - Enseignée en formation présentielle et/ou partiellement à distance : Paris
  • Type Intitulé Equipe pédagogique Modalité(s) / Lieu(x) Code

    Contact

    Informatique d'entreprise
    2D4P10, 33, 2 rue Conté
    75003 Paris
    Tel :01 58 80 84 71
    Alexandre LESCAUT

    Centre(s) d'enseignement proposant cette formation

    • Provence -Alpes- Côte d'Azur
      Comment est organisée cette formation à distance ?

      Planning

      Date limite d'inscription : 20/04/2018
      Date de démarrage : 21/02/2018
      Date de la première session d'examen :20/06/2018
      Date de la deuxième session d'examen :05/09/2018

      Accompagnement collectif

      Rendez-vous :
      Chat : oui
      Forum par UE :oui
      Webconférence : oui

      Accompagnement individuel

      Echange par mails : oui
      Accompagnement téléphonique :

      Regroupement

      Séances de regroupement : facultatives
      Nombre de séances de regroupement : 2
      Durée d'une séance de regroupement : 6

      Modalités de validation

      Examen sur table :oui
      Projet : oui
      Contrôle continu : oui
      Examen partiel : non
      :